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歐姆龍成功事例 | EFEM多材質(zhì)晶圓的凸出檢測(cè)方案

歐姆龍成功事例 | EFEM多材質(zhì)晶圓的凸出檢測(cè)方案

應(yīng)用介紹

【行業(yè)】SEMI

【設(shè)備】EFEM

【用途】用于半導(dǎo)體前道各種工藝機(jī)臺(tái)的晶圓傳輸

 

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使用場(chǎng)景

檢測(cè)cassette內(nèi)wafer是否有凸出,防止自動(dòng)取片時(shí)發(fā)生異常。

 

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場(chǎng)景:cassette內(nèi)wafer的突出檢查


解決課題

應(yīng)對(duì)不同材質(zhì)wafer的檢測(cè)需求,例如:Si、SiC、Ga2O3等。


價(jià)值提案

核心產(chǎn)品:光纖傳感器 E32/E3NX-FA

配備自動(dòng)調(diào)諧、以及APC&DPC自動(dòng)投光&受光校正,方便快速對(duì)應(yīng)各種透明度的wafer。

 

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相關(guān)產(chǎn)品

光纖傳感器E32系列

https://www.fa.omron.com.cn/products/family/1532/

 

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智能光纖放大器E3NX-FA

https://www.fa.omron.com.cn/products/family/3161/

 

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若您對(duì)本產(chǎn)品感興趣,歡迎掃碼留下您的聯(lián)系方式,歐姆龍工程師將盡快與您聯(lián)絡(luò)!

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李娜
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